3. Optence Messtechnik Symposium- Berührungslose Schichtdickenmessung in der Qualitätskontrolle

In der heutigen Produktion haben die meisten gefertigten Teile eine oder mehrere Beschichtungen, die den Teilen entweder einen Schutz bieten sollen oder sogar über die Funktion des Bauteils entscheiden. Die Prüfung der Dicken aufgebrachter Schichten ist daher ein wichtiger Bestandteil in der Qualitätskontrolle. Um die Produktion nicht durch den Messprozess zu beeinträchtigen, sind berührungslose Messtechniken von großer Bedeutung.
Im Symposium werden unterschiedliche Methoden der berührungslosen Schichtdickenbestimmung und ihre Einsatzmöglichkeiten vorgestellt.

Zielgruppe des Symposiums sind vorwiegend Firmen und Institute, welche sich mit dem Aufbringen und Charakterisieren von Schichten unterschiedlichster Materialien und Funktion beschäftigen.

Kooperationspartner der Veranstaltung sind das Fraunhofer ITWM und die DGaO.

Weitere Informationen finden Sie in unserem Flyer.

Wir freuen uns auf Ihre Teilnahme.
Bitte melden Sie sich frühzeitig an.

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Logo Optence e.V.

Datum
30.05.2017    10:00 Uhr - 17:00 Uhr

Stadt
Kaiserslautern

Veranstaltungsort
Zentrum für Materialcharakterisierung und -prüfung des Fraunhofer-Instituts für Techno- und Wirtschaftsmathematik, Fraunhofer-Platz 1, 67663 Kaiserslautern

Referenten
Nicolai Brill, MABRI.VISION GmbH
Dr.-Ing. Udo Riss, DRE-Dr. Riss Ellipsometerbau GmbH
Prof. Dr. Henning Fouckhardt, Technische Universität
Kaiserslautern
Dr. Daniel Schröder, Precitec Optronik GmbH
Dr. Mike Hettich, Universität Konstanz
Dr. Frank Ellrich, Fraunhofer ITWM
Dr. Fabian Friederich, Fraunhofer ITWM
Dr. Stefan Böttger, Phototherm Dr. Petry GmbH
Dr. Simone Dill, HELMUT FISCHER GmbH

Veranstalter
Optence e.V.
55286 Wörrstadt

Telefon
+49 (0)6732–935-122

Fax
+49 (0)6732–935-123

E-Mail
reuter(at)optence.de

Preis (zzgl. MwSt.)
Nicht-Mitglied: 180,00 €
Mitglieder: 140,00 €

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